CITIUS | Espectroscopía de Fotoelectrones

Espectroscopía de Fotoelectrones

Típicamente las "Espectroscopias de Fotoelectrones" (XPS/ESCA y AES) son unas poderosas técnicas de análisis cuantitativo no destructivo, sensibles exclusivamente a las primeras capas de la superficie de los sólidos (20-30 Å), lo que permite obtener información sobre las propiedades químicas, físicas y electrónicas de las mismas.

El interés técnico de esta información es enorme en campos tales como corrosión, catálisis, tratamientos de superficies de vidrios, fenómenos de flotación y adherencia, y los de segregación en metalúrgica, etc. Siendo el XPS/ESCA una técnica insustituible para abordar multitud de problemas que surgen en dichos campos tecnológicos.

La característica más importante de la Espectroscopia de Fotoelectrones (XPS/ESCA) es el permitir diferenciar distintos estados de oxidación y/o situaciones del entorno (coordinación) de los átomos en las muestras sólidas analizadas, así como el estudio de perfiles de composición combinando la técnica con el desbastado iónico empleando iones Ar+ acelerados. El límite de detección es del 0.5% para cada especie química.

Servicios

Análisis químico de superficies con fuente rayos X (AlKα, MgKα)
Análisis químico con fuente monocromática, que permite distinguir las distintas especies de un elemento presentes en la superficie (AlKα, AgLα)
Análisis químico de superficies de muestras sometidas a distintos pretratamientos bajo diversas atmósferas (H₂, O₂, CO, etc.) en condiciones controladas de temperatura y presión, tanto en condiciones estáticas como dinámicas.
Realización de perfiles de profundidad por XPS-AES (Auger Electron Spectroscopy) o XPS-ISS (Ion Scattering Spectroscopy)