Microscopía
La microscopía es una herramienta de caracterización fundamental en campos que abarcan desde la Ciencia e Ingeniería de Materiales hasta la Biología, pasando por la Arqueología, Farmacia, Química o Medicina, entre otras muchas.
El Servicio de Microscopía de la US se ha diseñado con una visión generalista, de modo que permite atender las necesidades de investigadores procedentes de cualquiera de las Áreas del Conocimiento.
Para ello cuenta con dos laboratorios con los equipos necesarios para la preparación de muestras tanto orgánicas como inorgánicas, así como de multitud de microscopios con diversas técnicas de microscopía electrónica (transmisión, barrido, FIB, técnicas analíticas,..), microscopía óptica (confocal, epifluorescencia, interferométrica) y de fuerzas atómicas (AFM/STM), estando, globalmente, entre los mejor equipados de España.
Servicios
Preparación de muestras orgánicas e inorgánicas para su estudio mediante microscopía óptica, electrónica, y de fuerzas atómicas.
Extracción de muestras a nivel microscópico (FIB)
Corte, pulido y adelgazamiento de las muestras mediante procesos mecánicos, iónicos y electrolíticos
Criofijación de muestras a temperatura ambiente mediante CPC. Incluye congelación por impacto y por inmersión
Fijación química, deshidratación, inclusión de muestras en resinas epoxi
Obtención de cortes semifinos y ultrafinos
Obtención de criocortes ultrafinos
Preparación y caracterización de muestras de minerales, rocas y fósiles (láminas delgadas)
Contratinción de secciones con plomo y uranilo
Deposición de carbono y metales, mediante evaporación y sputtering
Observación de muestras
Mediante microscopía óptica, electrónica, y de fuerzas atómicas
Topografía (SEM-SE, confocal, AFM)
A presión ambiental (ESEM)
Con control de la temperatura y humedad (ESEM)
De muestras criofijadas
Criofractura
Reconstrucción de grandes áreas
Medidas de altura, distancias y pendientes de superficies (confocal)
Medida de rugosidad (confocal)
Identificación de la composición química y de la microestructura de muestras
EDS bajo microscopía electrónica de transmisión y barrido
EBSD
Difracción de electrones
HAADF
EELS
Cuantificación y medida de características morfológicas de objetos mediante análisis de imagen de microscopía óptica, electrónica y de fuerzas atómicas
Reconstrucción 3D
Con imágenes de detectores SE, BSE, EBSD y EDS
De muestras fluorescentes (confocal)
Micromanipulación
Grabado de muestras a nivel microscópico (patterning)
Deposiciones controladas de Pt, C, SiO...
Soldadura
Microscopía correlativa
Obtención de dominios magnéticos y eléctricos (AFM)
Medidas de conductividad y resistividad superficial (AFM)
Equipamiento
Microscopios
Estaciones de Trabajo
Laboratorios
Preparación de Muestras Biológicas
Criofijador
Criostato
Microfresadora
Microtomo
Procesador muestras TEM
Punto Crítico
Recubridor
Ultramicrotomo
Preparación de Muestras de Materiales
Adelgazador Electrolítico
Adelgazador Iónico
Cortadora
Cortadora-Esmeriladora
Dimple
Embutidora
Micromecanizador
Pulidora
Recubridor
Nikon LV100ND [Microscopio Óptico Petrográfico-Metalográfico]MARCA: NikonMODELO: LV100NDUBICACIÓN: edificio CITIUS, planta baja, ala derechaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Microscopio óptico petrográfico-metalográfico. Compatible con observaciones de campo claro y campo oscuro, así como con aplicaciones con luz diascópica y episcópica. Potente software de captura y análisis de imágenes: - Reconstrucción de imágenes 3D virtuales mediante el módulo de profundidad de campo extendida (EDF). - Captura de vídeos. - Análisis de motivos: estudio de granularidad, clasificación automática de la forma, distribución y tamaño del grano. - Recuento de motivos. |
DOCUMENTOS: |
Olympus BX61 [Microscopio Óptico de Epifluorescencia]MARCA: OlympusMODELO: BX61UBICACIÓN: edificio CITIUS, planta baja, ala izquierdaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Microscopio que utiliza luz y permite obtener imágenes de una muestra. Es capaz de usar luz de diferentes longitudes de onda para excitar moléculas de forma selectiva y recoger la luz emitida por estas en un rango fijo de longitudes de onda. Esto permite estudiar distintos componentes celulares y la interacción entre ellos (por ejemplo, la localización de dos proteínas dentro de una célula). Tiene capacidad para cuantificar cualquier estructura en grandes volúmenes, contando sólo una pequeña fracción de la muestra. También es posible hacer una reconstrucción y cuantificación del árbol dendrítico y axonal de neuronas y otras estructuras filamentosas. |
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Sensofar S neox [Microscopio Óptico Confocal-Interferométrico]MARCA: SensofarMODELO: S neoxUBICACIÓN: CITIUS I, Planta Baja, Ala DerechaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Perfilómetro Óptico 3D. Permite realizar reconstrucciones 3D de muestras tanto pulidas como con topografía irregular (escarpada) mediante diferentes tecnologías: interferometría, confocal y variación de foco. Se pueden obtener imágenes de grandes regiones de la muestra a alta magnificación mediante pegado (área máxima de observación de 13.6 x 70.6 mm2). Potente software de análisis con capacidad para proporcionar medidas de: - Contorno de perfiles geométricos como tamaños, ángulos y radios. - Recuento de motivos. - Cálculo del volumen de un hueco. - Cálculo de parámetros de forma como rugosidad y ondulación, entre otras. |
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Zeiss Apotome [Microscopio Óptico de Epifluorescencia con Sistema de Iluminación Estructurada]MARCA: ZeissMODELO: ApotomeUBICACIÓN: CITIUS I, Planta Baja, ala derechaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Microscopio de iluminación estructurada, posibilidad de quitarlo instantáneamente de la ruta óptica fácilmente si se desea adquirir imágenes en epifluorescencia convencional. Se pueden utilizar filtros de banda simple colocados en la torreta motorizada y adquirir canales, stacks y mosaicos como si se usara un confocal. Es capaz de usar luz de diferentes longitudes de onda para excitar moléculas de forma selectiva y recoger la luz emitida por estas en un rango fijo de longitudes de onda. Esto permite estudiar distintos componentes celulares y la interacción entre ellos (por ejemplo, la localización de dos proteínas dentro de una célula). Tiene capacidad para cuantificar cualquier estructura en grandes volúmenes, contando sólo una pequeña fracción de la muestra. También es posible hacer una reconstrucción y cuantificación del árbol dendrítico y axonal de neuronas y otras estructuras filamentosas. |
DOCUMENTOS: |
Zeiss Duo [Microscopio Óptico Confocal Espectral de Barrido Láser]MARCA: ZeissMODELO: LSM 7 DUOUBICACIÓN: edificio CITIUS, planta baja, ala izquierdaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Microscopio que utiliza luz y permite obtener: imágenes del interior de una muestra sin tener que cortarla físicamente, imágenes tridimensionales y mosaico de un área amplia de la muestra con un gran poder de resolución. Es capaz de usar luz de diferentes longitudes de onda para excitar moléculas de forma selectiva y recoger la luz emitida por éstas en un rango libre de longitudes de onda, mediante un fotomultiplicador multicanal. Esto permite estudiar distintos componentes celulares y la interacción entre ellos (por ejemplo, la localización de dos proteínas dentro de una célula). Tiene capacidad para mantener las condiciones ambientales naturales de muestras hidratadas, así como de ir tomando imágenes a lo largo del tiempo para visualizar los cambios. También es posible obtener curvas espectrales de emisión de luz procedente de la muestra. |
DOCUMENTOS: |
FEI Teneo [Microscopio Electrónico de Barrido de Alta Resolución (FEGSEM)]MARCA: FEIMODELO: TeneoUBICACIÓN: Planta baja, ala derechaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Microscopio electrónico de barrido de alta resolución. Se pueden realizar estudios de muestras de muy diferente naturaleza, incluyendo muestras eléctricamente aislantes, o magnéticas. Permite obtener imágenes de la superficie de muestras tanto pulidas como con topografías abruptas; pudiendo obtener, mediante pegado, imágenes de grandes regiones de la muestra a alta magnificación. Tiene capacidad para realizar estudios de composición elemental. Puede mostrar, a la vez, hasta 4 señales de diferentes detectores. La cámara de muestras es de gran capacidad y versatilidad. El portamuestras permite montar hasta 18 muestras a la vez. Fácil y rápida navegación por las distintas muestras. |
DOCUMENTOS: |
Hitachi S5200 [Microscopio Electrónico de Barrido de Alta Resolución (FEGSEM)]MARCA: HitachiMODELO: S5200UBICACIÓN: CITIUS I, Planta Baja, Ala DerechaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Microscopio electrónico de barrido de alta resolución. Permite estudiar muestras en el rango de los nanómetros de muy diferente naturaleza, incluyendo muestras eléctricamente aislantes. Tiene capacidad para realizar estudios de composición elemental. Puede mostrar, a la vez, imágenes de varios detectores. |
DOCUMENTOS: |
Zeiss Auriga [Microscopio Electrónico Dual Beam (FIB-SEM)]MARCA: ZeissMODELO: AurigaUBICACIÓN: CITIUS I, sótano, ala derechaRESPONSABLES: Francisco Varela Feria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Microscopio electrónico de barrido con columna de Iones. Permite estudiar muestras de muy diferente naturaleza, incluyendo muestras eléctricamente aislantes. Puede obtener imágenes topográficas y de composición de la muestra. Permite realizar, en la muestra, cortes y soldaduras a nivel microscópico. Esto sirve, entre otras cosas, para hacer reconstrucciones en 3D, para realizar análisis elemental en profundidad, o para preparar muestras para microscopía electrónica de transmisión. Tiene capacidad para realizar estudios de composición elemental y de orientaciones cristalinas de las fases que componen la muestra (EBSD). Puede mostrar, a la vez, imágenes de varios detectores. |
DOCUMENTOS: |
Zeiss EVO [Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (ESEM)]MARCA: ZeissMODELO: EVOUBICACIÓN: CITIUS I, Planta Baja, ala derechaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Microscopio que utiliza un haz de electrones para hacer un barrido sobre la superficie de la muestra. La respuesta generada es recogida por diferentes detectores: de electrones secundarios (para cada uno de los modos de trabajo: alto vacío, bajo vacío y presión extendida) y de electrones retrodispersados. Estos detectores permiten obtener imágenes de la morfología de la superficie y de contraste de composición, respectivamente, con una resolución del orden de la micra. Este microscopio es capaz de trabajar para diferentes condiciones de presión, humedad y temperatura (-20ºC a 60ºC). Además, permite adquirir imágenes en muestras criofijadas a temperaturas por debajo de -120ºC, posibilitando el estudio de las mismas en unas condiciones casi nativas. |
DOCUMENTOS: |
Zeiss Libra 120 [Microscopio Electrónico de Transmisión con Filtro de Energía]MARCA: ZeissMODELO: LIBRA 120UBICACIÓN: CITIUS I, Planta Baja, ala izquierdaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Microscopio que utiliza los electrones como fuente de iluminación para obtener imágenes a alta resolución de secciones muy finas procedentes de muestras generalmente biológicas. Dispone de un filtro de energía capaz de separar los electrones según su perdida energía, y así obtener imágenes composicionales de la muestra y realizar análisis elemental. |
DOCUMENTOS: |
Talos [Microscopio Electrónico de Transmisión de Alta Resolución (FEGTEM)]MARCA: FEIMODELO: Talos S200UBICACIÓN: CITIUS I, sótano, ala derechaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Microscopio electrónico de transmisión de alta resolución (200 kV) Está optimizado para análisis de muestras a nivel atómico. Se pueden identificar fases y realizar medidas de la estructura de muestras cristalinas. Se pueden obtener imágenes de electrones transmitidos mediante un barrido del haz: STEM Permite mostrar visualmente información de la composición química de la muestra (detector HAADF). Está equipado con un detector de rayos X para hacer análisis de composición elemental. Se pueden obtener mapas de composición de la muestra. Tiene porta muestras de giro simple y de doble giro. |
DOCUMENTOS: |
Pico Plus [Microscopio de Fuerza Atómica]MARCA: ParkMODELO: Park NX10UBICACIÓN: Planta baja, ala izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: CCCCCC |
DOCUMENTOS: |
Leica CM1950 [Criostato Automático]MARCA: LeicaMODELO: CM 1950UBICACIÓN: Planta baja, ala izquierdaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Obtención de cortes (de 5 a 40 micras) en muestras congeladas. |
DOCUMENTOS: |
Leica EM TRIM2 [Debastadora ]MARCA: LeicaMODELO: EM TRIM2UBICACIÓN: Planta baja, ala izquierdaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro |
DESCRIPCIÓN: Piramidador de bloques de resina. |
DOCUMENTOS: |
Leica RM 2165 [Microtomo de Rotación]MARCA: LeicaMODELO: RM-2165UBICACIÓN: Planta baja, ala izquierdaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro |
DESCRIPCIÓN: Obtención cortes de tejido (rango de 5-300 micras), normalmente incluido en parafina. |
DOCUMENTOS: |
Leica AFS2 [Procesador de Muestras Criosustitución]MARCA: LeicaMODELO: AFS2UBICACIÓN: Planta baja, ala izquierdaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Inclusión baja temperatura de muestras criofijadas. Criosustitución. PLT |
DOCUMENTOS: |
Leica EM TP [Procesador Automático de Muestra ]MARCA: LeicaMODELO: EM TPUBICACIÓN: CITIUS I, Planta Baja, ala izquierda, laboratorioRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Inclusión a temperatura ambiente. Es posible procesar a la vez varias muestras y utilizar protocolos específicos. Actualmente se realizan con esta máquina todos los protocolos estandarizados del laboratorio, desde la fijación aldehica hasta la infiltración a resina 100%. Alta reproducibilidad. |
DOCUMENTOS: |
Leica EM CPD 300 [Deshidratador por Punto Crítico]MARCA: LeicaMODELO: CPD300UBICACIÓN: Planta baja, ala izquierdaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Deshidratación por Punto Crítico. |
DOCUMENTOS: |
Leica ACE600 [Recubridor por Sputtering y Evaporación]MARCA: LeicaMODELO: ACE600UBICACIÓN: Planta baja, ala derechaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Sistema de deposición de película de alto vacío . Este equipo puede producir recubrimientos de carbono y metal conductor muy delgados y de grano fino con objeto de conseguir la máxima resolución en los análisis. |
DOCUMENTOS: |
Leica EM UC7 [Ultramicrotomo Automático]MARCA: LeicaMODELO: UC7UBICACIÓN: Planta baja ala izquierdaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Obtención cortes semifinos (500nm) y ultrafinos (70nm) para su visualización mediante TEM. |
DOCUMENTOS: |
Leica EM UC7 II [Ultramicrotomo Automático]MARCA: LeicaMODELO: UC7 (II)UBICACIÓN: CITIUS I, Planta Baja, ala izquierda, laboratorioRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Ultramicrotomía. Obtención de cortes ultrafinos (50-70nm) para su visualización mediante TEM. |
DOCUMENTOS: |
Leica EM Crion [Ultramicrotomo Ionizador]MARCA: LeicaMODELO: EM CrionUBICACIÓN: Planta baja, ala izquierdaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro |
DESCRIPCIÓN: Permite controlar la carga electroestática en la cámara de crio del ultramicrotomo. |
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Struers Tenupol 5 [Adelgazador Electrolítico]MARCA: StruersMODELO: Tenupol-5UBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: Adelgazador electrolítico. |
DOCUMENTOS: |
Fischione M1060 [Adelgazador Iónico]MARCA: FischioneMODELO: M1060UBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Adelgazado de precisión para SEM |
DOCUMENTOS: |
Fischione 1050 [Adelgazador Iónico]MARCA: FischioneMODELO: 1050UBICACIÓN: Planta Sótano, ala izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Adelgazado de precisión para TEM |
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Gatan m691 [Adelgazador Iónico]MARCA: GatanMODELO: m691UBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: Adelgazado de precisión para TEM |
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Buehler Abrasimet 250 [Cortadora para Muestras Petrográficas]MARCA: BuehlerMODELO: Abrasimet 250UBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: Cortadora manual con amplio espacio de trabajo y opciones versátiles de sujeción en mordaza. |
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Buehler Isomet Low Speed [Cortadora de Precisión]MARCA: BuehlerMODELO: Isomet low speedUBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Cortes de precisión a baja velocidad diseñada para seccionar diversos tipos de materiales con una deformación mínima. |
DOCUMENTOS: |
Buehler Isomet 4000 [Cortadora de Precisión]MARCA: BuehlerMODELO: Isomet 4000UBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: Cortes de precisión automáticos y seriados. |
DOCUMENTOS: |
Buehler Isomet 5000 [Cortadora de Precisión]MARCA: BuehlerMODELO: Isomet 5000UBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Cortes de precisión automáticos. |
DOCUMENTOS: |
Buehler Petrothin [Cortadora-Esmeriladora de Precisión]MARCA: BuehlerMODELO: PetrothinUBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Cortadora de precisión que permite seccionar y adelgazar muestras de distinta naturaleza para la preparación de láminas delgadas. |
DOCUMENTOS: |
Struers Discoplan-TS [Cortadora-Esmeriladora de Precisión]MARCA: StruersMODELO: Discoplan-TSUBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: Cortadora de precisión que permite seccionar y adelgazar muestras de distinta naturaleza para la preparación de láminas delgadas. |
DOCUMENTOS: |
Fischione 200 [Dimple Grinder ]MARCA: FischioneMODELO: 200UBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Pulido de hoyuelos para TEM |
DOCUMENTOS: |
Gatan Dimple Grinder [Dimple Grinder ]MARCA: GatanMODELO: Dimple GrinderUBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: Pulidos de hoyuelos para TEM |
DOCUMENTOS: |
Buehler Simplimet 1000 [Embutidora en Caliente]MARCA: BuehlerMODELO: Simplimet 1000UBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: Prensa de montaje automática Se puede utilizar para la mayoría de las aplicaciones de montaje de compresión en caliente como materiales metalúrgicos, petrográficos y otros análisis microestructurales. |
DOCUMENTOS: |
Leica EM TXP [Micromecanizador ]MARCA: LeicaMODELO: EM TXPUBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Dispositivo de preparación de blancos para fresar, aserrar, triturar y pulir muestras antes de realizar un examen mediante técnicas de SEM, TEM y LM. |
DOCUMENTOS: |
Buehler Ecomet-250 [Pulidora Automática con Control de Presión y Tiempo]MARCA: BuehlerMODELO: Ecomet 250UBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: Pulidora para preparación de muestras metalográficas y petrográficas. Está equipada con un cabezal para pulido automático con microprocesador de control. |
DOCUMENTOS: |
Buehler Vibromet [Pulidora Vibratoria]MARCA: BuehlerMODELO: VibrometUBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Pulidos por vibración |
DOCUMENTOS: |
Metkon Forcipol [Pulidora Automática con Control de Presión y Tiempo]MARCA: MetkonMODELO: ForcipolUBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Pulidora para preparación de muestras metalográficas y petrográficas. Está equipada con un cabezal para pulido automático d con microprocesador de control. |
DOCUMENTOS: |
Struers Labopol-5 [Pulidora Manual]MARCA: StruersMODELO: Labopol-5UBICACIÓN: Planta Sótano, a la izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: Maquina de pulido para la preparación manual de muestras. |
DOCUMENTOS: |
Leica ACE 600 [Recubridor por Sputtering y Evaporación]MARCA: LeicaMODELO: ACE600UBICACIÓN: Planta baja, ala derechaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: Sistema de deposición de película de alto vacío . Este equipo puede producir recubrimientos de carbono y metal conductor muy delgados y de grano fino con objeto de conseguir la máxima resolución en los análisis, tal como requieren sus aplicaciones de FE-SEM y TEM. |
DOCUMENTOS: |
Edwards Scancoat [Recubridor por Sputtering]MARCA: EdwardsMODELO: ScancoatUBICACIÓN: Planta baja, a la derechaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: Metalizador de oro |
DOCUMENTOS: |
Leica EM SCD500 [Recubridor por Sputtering y Evaporación]MARCA: LeicaMODELO: EM SCD500UBICACIÓN: Planta Sótano, ala izquierdaRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, José María Sanabria Monge, Olivia Lozano Soria EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Metalizador Au de precisión con control de espesor. |
DOCUMENTOS: |
Leica Stellaris 8 Falcon [Microscopio Óptico Confocal Espectral de Barrido Láser]MARCA: LeicaMODELO: Stellaris 8 FalconUBICACIÓN: Sala FalconRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro |
DESCRIPCIÓN: Microscopio confocal de fluorescencia. Láser blanco: cualquier longitud de onda en el rango 440-790nm. Láser UV 405nm. Detección espectral libre mediante AOBS: 410-850nm. |
DOCUMENTOS: |
Leica Stellaris 8 STED [Microscopio Óptico Confocal]MARCA: LeicaMODELO: Stellaris 8 STEDUBICACIÓN: Planta baja ala izquierdaRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro EQUIPO FINANCIADO POR: |
DESCRIPCIÓN: Microscopio de superresolución |
DOCUMENTOS: |
Leica EM ICE [Criofijador por Alta Presión]MARCA: LeicaMODELO: EM ICEUBICACIÓN: Laboratorio de preparación de muestras biológicasRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro |
DESCRIPCIÓN: Criofijador por alta presión. |
DOCUMENTOS: |
Zeiss AxioZoom v16 (Lupa) [Estereomicroscopio ]MARCA: ZeissMODELO: AxioZoom v16UBICACIÓN: Sala EVORESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro |
DESCRIPCIÓN: Estereomicroscopio de fluorescencia y campo claro. Zoom óptico variable. Motorización completa en XYZ. Sistema de seccionamiento óptico mediante iluminación estructurada. Cámara CCD a color y monocroma. Sistema de ilumanción en epifluorescencia, luz transmitida y luz polarizada. Software de captura de imágenes ZEN Blue. |
DOCUMENTOS: |
Zeiss Sigma 300 VP [Microscopio Electrónico de Barrido de Alta Resolución (FEGSEM)]MARCA: ZeissMODELO: Sigma 300 VPUBICACIÓN: Planta baja, ala derechoRESPONSABLES: Consuelo Cerrillos González, Francisco Varela Feria, Olivia Lozano Soria |
DESCRIPCIÓN: Microscopio electrónico de barrido de alta resolución con bancada para ensayos mecánicos con etapa de calentamiento (tracción, compresión, flexión y dureza) y propiedades eléctricas (EBIC, RCI y medidas de resistividad). Tiene capacidad para realizar estudios de composición elemental y caracterización cristalográfica y microestructural. |
DOCUMENTOS: |
Olympus BX63 [Microscopio Óptico de Epifluorescencia]MARCA: OlympusMODELO: BX63UBICACIÓN: Sala ópticosRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro |
DESCRIPCIÓN: Microscopio óptico motorizado de epifluorescencia y campo claro. |
DOCUMENTOS: |
Z820 (WS LAS X) [Estación de Trabajo ]MARCA: HPMODELO: Z820UBICACIÓN: Sala STEDRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro |
DESCRIPCIÓN: Software Leica LASX |
DOCUMENTOS: |
SYS5039Ai (Supermicro) [Estación de Trabajo ]MARCA: SupermicroMODELO: SYS5039AiUBICACIÓN: Sala ópticosRESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro |
DESCRIPCIÓN: Imaris 9.6.1 |
DOCUMENTOS: |
Raman Horiba [Microscopio Óptico Confocal]MARCA: Horiba Jobin YvonMODELO: Labram SoleilUBICACIÓN: Sala EVORESPONSABLES: Cristina Vaquero Aguilar, Juan Luis Ribas Salgueiro |
DESCRIPCIÓN: Microscopio confocal Raman |
DOCUMENTOS: |
Solicitud de Servicio
CITIUS pone a disposición del usuario una completa aplicacíón web desde la que gestionar toda relación con el centro. Desde el siguiente enlace podrá darse de alta como nuevo usuario, así como acceder a nuestro portal y disfrutar de todos los servicios que ofrece.
Documentos
NORMAS
-
Registro de Entrada de Muestras de Especial Riesgo
Descargar
-
NORMAS DEL SERVICIO DE MICROSCOPIA
Descargar
PLAZOS
Tarifas
Personal
-
Jesús Cintas Físico
Director Serviciodirectormicus.es
954557434 -
Consuelo Cerrillos González
Técnicoccerrillosus.es
954559733 (59733)
618228134 (18134) -
Olivia Lozano Soria
Técnicoolozano2us.es
954559733 (59733) -
Juan Luis Ribas Salgueiro
Técnicojlribasus.es
954559733 (59733)
628220681 (12068) -
Cristina Vaquero Aguilar
Técnicocvaquerous.es
608790231 (10231)
608790231 (10231) -
Francisco Varela Feria
Técnicofmvarelaus.es
646384697 (14697)
646384697 (14697)